本文通过对锑化铟晶片进行高温加速试验来测量不同时间点的几何参数、表面粗糙度、位错密度和电学参数,从而获得锑化铟晶片在高温加速贮存下性能的变化。
本研究成果为设计多功能消色差超透镜提供了一种新思路,有望进一步拓展太赫兹频段超透镜在显微成像和内窥镜等领域的实际应用。